X射線衍射儀依托晶體結(jié)構(gòu)“指紋識(shí)別"的優(yōu)勢(shì)，能精確鑒定爆炸殘留物的化學(xué)成分，為爆炸事故調(diào)查提供科學(xué)依據(jù)，其鑒定過(guò)程通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化的樣品處理、儀器測(cè)試與數(shù)據(jù)分析，實(shí)現(xiàn)從微量樣品到成分確認(rèn)的完整閉環(huán)，兼具準(zhǔn)確性與實(shí)用性。

　　鑒定的首要環(huán)節(jié)是針對(duì)性樣品處理，為后續(xù)分析筑牢基礎(chǔ)。工作人員從爆炸現(xiàn)場(chǎng)（如殘留物散落區(qū)、容器碎片）采集毫克級(jí)微量樣品，先用無(wú)水乙醇或丙酮清除油污、灰塵等雜質(zhì)，避免外來(lái)污染物干擾衍射信號(hào)。之后將樣品研磨至200目以上，確保顆粒均勻分散，再平鋪于專用樣品槽并壓實(shí)，減少顆粒間隙導(dǎo)致的衍射峰強(qiáng)度偏差，保障樣品測(cè)試條件統(tǒng)一。

　　儀器測(cè)試階段聚焦獲取晶體“指紋圖譜"。啟動(dòng)X射線衍射儀后，設(shè)定適配參數(shù)：掃描速度控制在適當(dāng)范圍內(nèi)，平衡測(cè)試效率與峰形清晰度。當(dāng)X射線照射樣品時(shí)，不同化學(xué)成分的晶體因原子排列差異，會(huì)產(chǎn)生獨(dú)特特征衍射峰，儀器實(shí)時(shí)記錄衍射峰的角度、強(qiáng)度與峰形，生成樣品專屬的衍射圖譜。

　　數(shù)據(jù)分析環(huán)節(jié)通過(guò) “圖譜匹配" 鎖定化學(xué)成分。將樣品衍射圖譜與JCPDS等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中的爆炸物（硝銨類、硝基化合物類等）標(biāo)準(zhǔn)圖譜對(duì)比，若二者特征衍射峰的角度、相對(duì)強(qiáng)度一致，即可判定樣品含對(duì)應(yīng)殘留物成分；同時(shí)借助Rietveld全譜擬合法，還能半定量分析各殘留物相對(duì)含量，為還原爆炸場(chǎng)景補(bǔ)充關(guān)鍵信息。

　　總之，X射線衍射儀通過(guò)“樣品處理 - 儀器測(cè)試 - 數(shù)據(jù)分析"的標(biāo)準(zhǔn)化流程，精準(zhǔn)鑒定爆炸殘留物化學(xué)成分，為爆炸事故原因排查、責(zé)任認(rèn)定提供可靠的技術(shù)支撐。

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