Vanta Element手持 XRF X射線熒光分析儀

簡(jiǎn)要描述：Vanta Element™ XRF 分析儀系列
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠
通過(guò)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 XRF 測(cè)試，幾秒鐘內(nèi)即可獲得合金化學(xué)成分和牌號(hào) ID。Vanta Element 分析儀系列可提供元素分析儀，用于快速合金鑒定和分類(lèi)：
用于快速、基本合金 ID 的 Vanta 元素分析儀
Vanta Element-S 分析儀增加了鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）的輕元素檢測(cè)、和磷

產(chǎn)品型號(hào)：Vanta Element™ XRF
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2025-03-08
訪問(wèn) 量：825

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品牌	OLYMPUS/奧林巴斯	行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型	通用
價(jià)格區(qū)間	面議	儀器種類(lèi)	手持式/便攜式
應(yīng)用領(lǐng)域	地礦,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件

Vanta Element™ XRF 分析儀系列

經(jīng)濟(jì)實(shí)惠

通過(guò)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 XRF 測(cè)試，幾秒鐘內(nèi)即可獲得合金化學(xué)成分和牌號(hào) ID。Vanta Element 分析儀系列可提供元素分析儀，用于快速合金鑒定和分類(lèi)：

用于快速、基本合金 ID 的 Vanta 元素分析儀

Vanta Element-S 分析儀增加了鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）的輕元素檢測(cè)、和磷 (P)兩種型號(hào)都具有快速等級(jí) ID 和清晰的屏幕等級(jí)比較功能，可加快廢料分類(lèi)的金屬檢測(cè)速度、

金屬制造和貴金屬分析。易于使用和學(xué)習(xí)，類(lèi)似智能手機(jī)的界面簡(jiǎn)化了用戶培訓(xùn)和合金鑒定過(guò)程。

自信地驗(yàn)證和分揀金屬與合金Vanta Element 系列包括一個(gè)合金數(shù)據(jù)庫(kù)，其中包含廢料回收和制造中常用的合金。和制造中常用的合金。可輕松定制專(zhuān)有或其他牌號(hào)的數(shù)據(jù)庫(kù)。

Vanta Element手持 XRF X射線熒光分析儀

自信地驗(yàn)證和分類(lèi)金屬與合金

Vanta 元素系列包括一個(gè)合金數(shù)據(jù)庫(kù)，其中包含廢料回收和制造中常用的合金。和制造中常用的合金數(shù)據(jù)庫(kù)?？奢p松定制專(zhuān)有或其他牌號(hào)的數(shù)據(jù)庫(kù)。

Vanta Element手持 XRF X射線熒光分析儀

現(xiàn)代與互聯(lián)

Vanta Element™ 系列包括新的連接性功能和專(zhuān)有技術(shù)，可簡(jiǎn)化您的分析過(guò)程。

?毫不妥協(xié)的性能

快速準(zhǔn)確的 Vanta™ 電子元件

Axon 技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率

硅漂移探測(cè)器可縮短測(cè)試時(shí)間并提高元素識(shí)別

?便捷的數(shù)據(jù)管理

直接導(dǎo)出到 USB 驅(qū)動(dòng)器

用于存儲(chǔ)結(jié)果的 1 GB microSD 卡

無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)文件夾（可選）

在電腦、平板電腦或智能手機(jī)上查看和共享結(jié)果

通過(guò)自動(dòng)軟件更新即時(shí)使用新功能

在 Evident Connect 云中進(jìn)行無(wú)縫數(shù)據(jù)管理

?堅(jiān)固耐用、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠

Vanta Element 系列可降低擁有成本：

IP54 防護(hù)等級(jí)，防塵防潮通過(guò)跌落測(cè)試（MIL-STD-810G），防止跌落

?減少昂貴的維修費(fèi)用

可在 -10 °C 至 45 °C (14 °F 至 113 °F) 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行連續(xù)測(cè)試至 113 °F）

不銹鋼面板，提供磨損保護(hù)

更換窗口簡(jiǎn)便，無(wú)需工具

三年標(biāo)準(zhǔn)保修

Vanta Element手持 XRF X射線熒光分析儀

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